时间：2023年4月25日星期二， 13：30—16：30

　　地点：综合楼A座325

　　讲座题目： 《大型仪器应用技术系列专题讲座（一）X射线光电子能谱仪》

　　主要内容：

　　X射线光电子能谱仪（简称XPS）是广泛应用于材料科学领域的高技术分析仪器，主要用于固体材料的表面（一般10 nm深度）元素成分和价态的定性和定量分析。XPS与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，可以用于固体表面元素成分及价态的面分布和深度剖析；与离子蒸镀或其他分子束外延技术相结合，可以进行原位样品的制备及分析工作。XPS在各类功能薄膜的机理研究、纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、催化剂研究与失效分析等方面具有不可替代的作用。

　　本次会议报告包含XPS的分析原理，XPS在化学化工、纺织材料、生物和环境工程方向的应用，以及分析谱图解析等。

　　报告人简介：

　　龚沿东研究员，岛津/Kratos公司XPS技术专家。1986年毕业于清华大学现代应用物理系近代物理专业（理学学士）、1993年5月毕业于中国科学院金属研究所金属物理专业（工学硕士）。1995年1月起，任中国科学院金属研究所结构分析室副主任（高级工程师），1999年4月起，任中国科学院金属研究所分析测试部主任（研究员）。1992年3月起，英国国家物理实验室（National Physical Laboratory）访问学者（1年），1996年12月起，美国圣母大学（University of Notre Dame）化工系研究助手（2年）。1996年3月起，任全国微束分析标准化技术委员会委员，1999年8月起，兼任全国微束分析标准化技术委员会表面分技术委员会委员。2005年6月起，岛津公司市场部XPS和EPMA技术负责人。

　　欢迎广大师生前来聆听！